Test method of one-time programmable resistance memory

一次可编程电阻型存储器测试方法

Abstract

本发明属于存储器技术领域,涉及一种一次可编程电阻型存储器测试方法。本发明利用一次可编程电阻型存储器的存储介质具有多次擦写容限的能力,在测试过程中进行擦除操作验证、存储功能验证和可靠性作测试。利用该测试方法可以大大提高一次可编程电阻型存储器的产品出厂良率。

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Patent Citations (3)

    Publication numberPublication dateAssigneeTitle
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